Метод однородных дублетов

Метод основан на определении относительной интенсивности аналитической линии и линии сравнения, которые образуют однородный дублет, то есть эти линии являются гомологичной парой (имеют близкие значении энергии возбуждения) и должны иметь равные интенсивности при определенной концентрации определяемого элемента в пробе. Предварительно по спектрам стандартных образцов составляют таблицу аналитических признаков, где концентрации заданного элемента ставится в соответствие относительная интенсивность дублета. Тогда, определив относительную интенсивность дублета в спектре пробы и пользуясь аналитическими признаками, оценивают концентрацию заданного элемента в искомой пробе.

2. Метод визуального сравнения почернений.

Этот метод основан на визуальном сравнении почернения аналитической линии в спектре пробы с ее почернением в спектре образцов сравнения, концентрация анализируемого элемента в которых известна. Пусть концентрация анализируемого элемента в образцах сравнения составляет соответственно в первом - 0,001%; во втором - 0,003%; в третьем - 0,01%; в четвертом - 0,03%; в пятом - 0,1%. Если почернение аналитической линии в спектре пробы равно почернению той же линии в спектре второго образца сравнения, то концентрация анализируемого элемента в пробе составляет ~ 0,003%.

Метод появления чувствительных линий

Предварительно составляют таблицу по спектрам стандартных образцов, в которой указан порядок появления аналитических линий определенного элемента по мере увеличения его концентрации. Из анализа спектрограммы пробы устанавливают количество и длины волн заданного элемента. Сравнивая полученный результат с данными, сведенными в таблицу, устанавливают концентрацию анализируемого элемента.

Порядок выполнения работы

1. Зарегистрировать эмиссионный спектр пробы и трех стандартных образцов на железной основе через девятиступенчатый ослабитель.

2. Пользуясь атласом железа, с помощью спектропроектора СП-1 построить по полученной спектрограмме градуировочный график спектрографа.

3. Провести качественный анализ пробы на заданный элемент.

4. Методом однородных дублетов и методом визуального сравнения почернений с помощью микроскопа МИР-12 провести полуколичественный анализ на заданный элемент.

Литература

1. Е.Г. Орешникова. Спектральный анализ. М.1982.

2. И.М. Нагибина, Ю.К. Михайловский. Фотографические и фотоэлектрические спектральные приборы и техника эмиссионной спектроскопии. Л.1981.

3. В.С. Бураков, А.Я. Янковский. Практическое руководство по спектральному анализу.