Для этой цели воспользуемся значениями мнимой компоненты imag(Zio2(1) и imag(Zio2(2) на первой (1) и второй (2) низких частотах.
Im1=abs(imag(Zio2(1)));
Im2=abs(imag(Zio2(2)));
w1=2*pi*f (1);
a1=abs(1/sqrt(w1));
w2=2*pi*(f (2));
a2=abs(1/sqrt(w2));
A=(Im1+Im2)/abs(a1+a2)
dA= A-1000
odA=dA/10
A = 1.0093e+003
odA= 0.9334.
ВЫВОДЫ
1.Используя импеданс-частотный метод, т.е. метод определения зависимости импеданса ЭХО от частоты, можно с достаточной высокой точностью определитьсопротивление электролита и его скомпенсировать.
2. Подключив дополнительно операцию по компенсации емкости двойного электрического слоя, повысить точность измерения компонентов Cd и Rp, не менее, чем на порядок.
Таким образом, методом математического моделирования на данном примерепоказано, что предлагаемое к реализации устройство с предварительной компенсацией параметров: сопротивления электролита Re и емкости двойного электрического слоя Cd потенциально может обеспечить относительные погрешности (o)измерения:оRe=0,01, oCd=0.50;
Rp= 1.0082e+003, оRp=0.8174.
Относительная погрешность определения константы Варбурга odA= 0.9334
Следовательно, используя сочетание методов:
1. Определения частотной зависимости импеданса исследуемого объекта и предварительной оценки значений искомых параметров Re, Rp и Cd;
2. Компенсации сопротивления электролита Re и емкости двойного электрического слоя Cd;
можно практически более чем на порядок повысить точность определения искомых компонентов Rp, Cd и константы Варбурга, а полученные результаты подтверждают перспективность предложенного принципа предварительной компенсации сопротивления электролита Re и емкости двойного электрического слоя Cd для построения "цифрового измерителя параметров двух- и трехполюсных электрических объектов".
Графики
1.Годограф импеданса Варбурга
X=real(Zdl)
Y=imag(Zdl)
Годограф адмиттанса электродной границы ЭХО без Ro
X=real(y3)
Y=imag(y3)