Для обеспечения высокой эффективности эмиттера последний легируют значительно сильнее, чем область базы. Однако при превышении уровня легирования эмиттера некоторого значения коэффициент усиления не увеличивается, а уменьшается. Это обусловлено двумя эффектами: сужением ширины запрещённой зоны эмиттера и значительным увеличением темпа рекомбинации Оже, которые приводят к увеличению тока обратной инжекции из базы в эмиттер.
При концентрации примеси в эмиттере более 1018 см–3 среднее расстояние между атомами примеси становится меньше 10–6 см, что сравнимо с длиной волновой функции электрона. Перекрытие волновых функций приводит к расщеплению примесных уровней в примесные подзоны и увеличению плотности разрешённых состояний в запрещённой зоне, что эквивалентно сужению ширины запрещённой зоны (рисунок 7.9).
В расчётах эффективности эмиттера используют эмпирические соотношения для величины сужения ширины запрещённой зоны в кремнии
(эВ),
или (7.19)
|
|
(эВ).
E Сужение ширины запрещённой зоны
EC приводит к увеличению собственной
DEg концентрации носителей заряда
EV’ DEg0
EA DEE EV . (7.20)
При уровне легирования эмиттера
NE = 5∙1019 см-3 выражение (7.19) даёт
величину D ЕЕ ≈ 0,11эВ. Это означает,
что концентрация при
NV Т = 300К, а следовательно, концентра-
ция неосновных носителей заряда в
Рисунок 7.9 - Сужение ширины запре- эмиттере и ток обратной инжекции
щённой зоны p+- эмиттера и увеличе- увеличивается также на полтора порядка.
ние плотности состояний
.
Увеличение тока обратной инжекции с ростом уровня легирования за счёт сужения ширины запрещённой зоны эмиттера приводит к экстремальной зависимости Bγ (NE) (рисунок 7.10).
|
|
Поэтому для обеспечения максимального значения коэффициента усиления кремниевых транзисторов необходимо оптимальное легирование эмиттера.
Дополнительное снижение эффективности эмиттера при высокой концентрации основных носителей заряда связано с уменьшением времени жизни за счёт прямозонной рекомбинации Оже (рисунок 7.11).
В γ τЕ
τА
~ NE D EE (NE)
τSE
NE.опт. NE NE
Рисунок 7.10 - Зависимость эффективности Рисунок 7.11 - Уменьшение времени жизни
эмиттера от уровня легирования носителей заряда в эмиттере с ростом
уровня легирования
,
где – время жизни, определяемое рекомбинацией через ловушки;
– время жизни, определяемое рекомбинацией Оже.
Так как эффективность (7.16) уменьшается со снижением времени жизни в эмиттере, то высокий уровень легирования приводит к уменьшению коэффициента усиления транзистора. Следует отметить, что для кремниевых транзисторов эффект сужения ширины запрещённой зоны эмиттера играет более важную роль, чем рекомбинация Оже.