Нониальные устройства

Более высокую точность фокусировки можно получить нониальным или биссекторным методом (рис. 11.8). Источник 1 через конденсор 2 освещает сетку 3 (например, прозрачный штрих на темном поле), которая зеркалом 4, линзой 5 и объективом 7 фокусируется на объект. Между линзой 5 и объективом 7 в автоколлимационной схеме располагают маску 6. Ее автоколлимационное отражение в плоскости сетки 9 наблюдается в окуляр 10. При точной фокусировке в поле зрения наблюдается один штрих. При неточной фокусировке отображение маски раздваивается и следует добиться нониального или биссекторного совмещения обоих штрихов.

Перспективным методом контроля микрогеометрии поверхности является стереоскопический метод. В фокальной плоскости окуляра стереомикроскопа располагают специальную измерительную марку. Совмещают изображение объекта контроля и марки по глубине для различных точек поверхности. Перемещение марки, характеризующее глубину дефектов, измеряют микровинтом. Точность измерений достигает 0,002 мм. Стереомикроскоп имеет большое рабочее расстояние (до 90 мм), что удобно для эксплуатации.