JTAG (Joint Test Action Group) — название рабочей группы по разработке стандарта IEEE 1149. Позднее это сокращение стало прочно ассоциироваться с разработанным этой группой специализированным аппаратным интерфейсом на базе стандарта IEEE 1149.1. Официальное название стандарта Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture. Интерфейс предназначен для подключения сложных цифровых микросхем или устройств уровня печатной платы к стандартной аппаратуре тестирования и отладки.
На текущий момент интерфейс стал промышленным стандартом. Практически все сколько-нибудь сложные цифровые микросхемы оснащаются этим интерфейсом для:
· выходного контроля микросхем при производстве
· тестирования собранных печатных плат
· прошивки микросхем с памятью
· отладочных работ при проектировании аппаратуры и программного обеспечения
Метод тестирования, реализованный в стандарте, получил название Boundary Scan (граничное сканирование). Название отражает первоначальную идею процесса: в микросхеме выделяются функциональные блоки, входы которых можно отсоединить от остальной схемы, подать заданные комбинации сигналов и оценить состояние выходов каждого блока. Весь процесс производится специальными командами по интерфейсу JTAG, при этом никакого физического вмешательства не требуется. Разработан стандартный язык управления данным процессом — Boundary Scan Description Language (BSDL).
|
|
Стандарт предусматривает возможность подключения большого количества устройств (микросхем) через один физический порт (разъем).
Порт тестирования (TAP — Test Access Port) представляет собой четыре или пять выделенных выводов микросхемы: ТСК, TMS, TDI, TDO и (опционально) TRST.
Функциональное назначение этих линий:
· TDI (test data input — «вход тестовых данных») — вход последовательных данных периферийного сканирования. Команды и данные вводятся в микросхему с этого вывода по переднему фронту сигнала TCK;
· TDO (test data output — «выход тестовых данных») — выход последовательных данных. Команды и данные выводятся из микросхемы с этого вывода по заднему фронту сигнала TCK;
· TCK (test clock — «тестовое тактирование») — тактирует работу встроенного автомата управления периферийным сканированием. Максимальная частота сканирования периферийных ячеек зависит от используемой аппаратной части и на данный момент ограничена 25…40 МГц;
· TMS (test mode select — «выбор режима тестирования») — обеспечивает переход схемы в/из режима тестирования и переключение между разными режимами тестирования.
· В некоторых случаях к перечисленным сигналам добавляется сигнал TRST для инициализации порта тестирования, что необязательно, так как инициализация возможна путем подачи определённой последовательности сигналов на вход TMS.
|
|
Работа средств обеспечения интерфейса JTAG подчиняется сигналам автомата управления, встроенного в микросхему. Состояния автомата определяются сигналами TDI и TMS порта тестирования. Определённое сочетание сигналов TMS и TCK обеспечивает ввод команды для автомата и её исполнение.
Если на плате установлено несколько устройств, поддерживающих JTAG, они могут быть объединены в общую цепочку.
Механизм граничного сканирования заключен, всего лишь, в сдвиговом регистре (Boundary Scan), подключенном между выводами микросхемы и ядром, и мультиплексоре который подключает в нужный момент этот регистр. Каждому конкретному выводу соответствуют так называемые «ячейки».
В состав ячейки входит один триггер регистра граничного сканирования и мультиплексора выбора данных. Ячейки могут быть разных типов в зависимости от вывода микросхемы и команд интерфейса, т.е. зависит от производителя той или иной микросхемы. Производители не придерживаются строго стандарта и, поэтому, развелось множество модификаций.
На рисунке представлена одна из разновидностей ячейки. PI, PO — параллельные вход и выход, SI, SO — последовательные.
Сигналы на регистр микросхемы попадают через мультиплексор, который позволяет считывать как состояния выводов ядра микросхемы (инструкция INTEST), так и данные, поступающие извне на сдвиговый регистр (инструкция EXTEST).
Разновидности инструкций будут рассмотрены в следующем вопросе.
Источники:
1. http://habrahabr.ru/post/190012/
2. http://ru.wikipedia.org/wiki/JTAG
3. Конспект