Виготовлення друкарських форм

Рис. 3.42.

Утворення пробільних та друкарських елементів друкарської форми

підкладаються шкали оперативного контролю формного та друкарського процесів.

Висока якість друкованої продукції можлива при умові відтворення усіх деталей фотоформи при виготовленні друкарської форми і оптимальному друкарському процесі. Оперативний контроль формних друкарських процесів здійснюють за допомогою контрольних шкал, які дозволяють встановити об'єктивні показники якості на різних стадіях технологічного процесу.

СПШ-К — півтонова шкала, призначена для визначення та контролю часу експонування. Містить 10 полів

з інтервалом 0,15 Б (від D_l^s^:O_f\b Б до D_l₀= 1,5 Б

і додаткове 11 поле зі щільністю D_n = 2,00 ± ОД Б.

Правильність вибраного часу експонування контролюється за номером повністю проявленого поля шкали СПШ-К. На монометалевих формах повністю проявленим полем вважають поле, яке не сприймає фарбу. Номер проявленого поля в залежності від типу пластин може бути різним. Переважно це 3—4 поля (0,45—0,60 Б) шкали СПШ-К.

РШ-Ф — призначена для оцінювання якості друкарської форми. Оперативне оцінювання можна здійснювати як візуально, так і з застосуванням засобів вимірювальної

10 Мельников

Розділ З

техніки. З її допомогою кількісно оцінюють спотворення растрових елементів у межах від 3 до 9 %. Шкала РШ-Ф застосовується разом зі шкалою СПШ-К. Шкала РШ-Ф (рис. 3.43) складається із 7 контрольних високолініатурних растрових полів (3+, 2+, 1+, 0, 1-, 2-, 3-) вписаних в низьколініатурний растровий фон і двох додаткових полів для контролю найсвітліших ділянок зображення (№ 4 - S _Шн = 2,6 %; № 5 - S_e₀_H = 4,3 %; Л = 67 лін/см).

Для визначення максимальних спотворень растрових елементів знаходять таке контрольне поле з числа основних, яке візуально зливається з низьколініатурним фоном, що пояснюється відносно більшими спотвореннями високолініатурних растрових елементів у порівнянні з низколініатурними.

Рис. 3.43.

Загальний вигляд

шкали РШ-Ф

..... а..+...		-.. а-	і: ч
і'":;;:!:.............. -...І:':;':	?!!!!і!!ІП \|ї\|Нг-\|=І

Контрольну шкалу (клин) UGRA 1982 застосовують для контролю експозиції пластин, аналогової кольоропро-би, оцінювання пробних відбитків. Складається з 5 ділянок (рис. 3.44), кожна з яких призначена для контролю певних технологічних показників.

Рис. 3.44.

Загальний вигляд

контрольної шкали

(клин) UGRA 1982

Півтоновий клин (рис. 3.45, а) аналог шкали СПШ-К складається з 13-ти полів: діапазон оптичної густини 0,15— 1,95 Б; градація оптичної густини 0,15 ± 0,02 Б. Він спроектований таким чином, що суміжні експозиції відрізняються на коефіцієнт k = 1,4 (див. табл. 3.10). Ділянка позитивних і негативних мікроліній: 4—70 мкм (рис. 3.45, б). Шкала з лініатурою растра 60 л/см та S_eidH= 10— 90 % (рис. 3.45, в). Ділянка контролю двоїння/ проковзування (рис. 3.45, г). Світлі ділянки з S_eidH = 0,5— 5,0 % і темні ділянки S_eidH = 95,0—99,5 % для растра 60 л/см (рис. 3.45, д).