Содержание основной (аналитической) части отчета о патентных исследованиях.
Понятие базового и перспективного образца при оценке технического уровня. Выбор базовых образцов на различных стадиях жизненного цикла объекта техники.
Источники информации, используемые объектов в отношении промышленных образцов и товарных знаков.
Роль патентно-правовых показателей в обеспечении конкурентоспособности промышленной продукции.
Основные принципы отбора высокоэффективных изобретений для использования в объекте разработки. Оценка коммерческой значимости изобретений.
Особенности объектов в отношении товарных знаков, знаков обслуживания и наименований мест происхождения товаров.
Анализ патентно-лицензионной деятельности зарубежных фирм.
Определение тенденций развития на основе анализа динамики изменения потребительских свойств промышленной продукции.
Мероприятия по обеспечению возможности реализации продукции на рынке конкретной страны при наличии «мешающих» патентов.
Проведение патентных исследований при подготовке лицензионных соглашений.
Понятия «технический уровень», «качество» и «техническое совершенство» продукции.
Экспертиза на патентную чистоту объектов экспортных комплектных поставок.
Роль патентной информации при анализе рынка промышленной продукции.
Применение матрицы «цель-средство» для выявления прогрессивных технических решений.
В отношении каких видов интеллектуальной собственности проводится проверка на патентную чистоту?
Характеристика стадий жизненного цикла объекта техники и виды патентных исследований, осуществляемых на каждой стадии.
Документальное оформление результатов оценки технического уровня в отчете о патентных исследованиях.
Мероприятия по обеспечению беспрепятственной реализации объектов на внутреннем и внешнем рынке.
Нормативная и методическая база, используемая при проведении патентных исследований.
В каких разделах описания изобретения к патенту содержатся сведения об улучшаемых свойствах продукции?
Особенности проверки патентной чистоты объектов в отношении программ для ЭВМ, баз данных, топологий интегральных микросхем, ноу-хау, фирменных наименований.
Информационные фонды и базы данных, используемые при проведении патентных исследований.
Какие санкции могут быть применены к нарушителю исключительных прав третьих лиц на территории России.
Методика определения коэффициентов весомости технико-экономических показателей продукции.
Цели оценки технического уровня объектов техники.
Нужна ли проверка на патентную чистоту технических решений, патентами в России и за рубежом?
Методы анализа информации, используемые при проведении патентных исследований.
Как осуществить выбор наиболее эффективного изобретения, которое можно рекомендовать для использования в объекте разработки?
Патентная чистота объектов лицензионных соглашений и выставочных экспонатов.
Как выявить потенциальных зарубежных партнеров и подготовить предложения по научно-техническому сотрудничеству?
В какой документации предусматривают необходимость проведения патентных исследований и кто несет ответственность за отказ от проведения патентных исследований, от использования их результатов.