Із встановленням стану рівноваги рівень Фермі в обох областях встановлюється на однаковому енергетичному рівні, і це супроводжується викривленням енергетичних зон (рис.2б). Між областями виникає контактна різниця потенціалів
, яка утворює в
– переході потенціальний бар’єр
, який забороняє перехід електронів з
– області в
– область (для дірок навпаки, з
– області в
– область).
Як показують розрахунки, висота потенціального бар’єру
встановлюється таким чином, що концентрації електронів і дірок на межах шару підпорядковані статистиці Больцмана, тобто
,
.
Звідси
. (4)
Із (4) можна бачити, що потенціальний бар’єр тим вищий, чим більше відношення концентрації основних носіїв заряду в даній області напівпровідника до концентрації цих носіїв в іншій області, де вони не є основними. При
1022 м-3,
1016 м-3 і
К, його висота становить
=0,45 еВ.
Шар об’ємного заряду, що виникає на межі областей, розповсюджується на глибину
в
– область і на глибину
в
–область. Товщина шару об’ємного заряду
визначається висотою потенціального бар’єру та концентраціями основних носіїв заряду у відповідних областях
, (5)
де
=8,85×10-12 Ф/м – діелектрична стала вакууму,
– діелектрична проникність речовини, і може досягати значень 10-6…10-4 см.
Із рівності потоків носіїв заряду (3) випливає, що у стані рівноваги струм через
– перехід не протікає. Позначимо густину струму, що відповідає потоку
через
, потоку
– через
, потоку
– через
, потоку
– через
. На рис.2б ці потоки вказані стрілками. У відповідності із (3) можна записпти
,
. (6)
Додаючи ліві і праві частини цих рівностей, маємо
.
Ліва частина рівності являє собою повний струм
, що протікає у
–переході, а отже
. (7)
Рівність (7) виражає умову відсутності струму у
–переході у стані рівноваги. Знайдемо
та
. Для цього виділимо на границі
–переходу з боку
– області одиничну площадку
і побудуємо на ній циліндр із твірною
(рис.3), де
– дифузійна довжина електронів в
– області,
– середній час їх життя у ній.
Рис.3. Ілюстрація для розрахунку густин струмів неосновних носіїв заряду
Зауваження. Вважається, що опір
–переходу великий у порівнянні із опорами кожної з областей, тобто за межами
–переходу носії заряду рухаються лише внаслідок дифузії. За час свого життя
вони в середньому зміщуються на відстань
, яка називається дифузійною довжиною. Розрахунок показує, що
,
де
– коефіцієнт дифузії носіїв заряду, пов’язаний з їх рухливістю
співвідношенням Ейнштейна
.
Таким чином, величина
являє собою середню швидкість дифузії електронів з глибини
– області, де їхня концентрація становить
, до границі
–переходу, де вони підхоплюються контактним полем
і перекидаються до
– області.
Кількість електронів у виділеному циліндрі визначається як добуток об’єму циліндра
на концентрацію електронів у
–області
, тобто
. Всі ці електрони за 1 с пройдуть через одиничну площадку
і будуть перекинуті до
– області, створивши струм густиною
. (8)
Аналогічно можна знайти
, побудувавши циліндр з одиничною основою
і твірною
на межі
–переходу з
– областю,
. (9)
Таким чином, у стані рівноваги
(10)
перехід за наявності зовнішньої напруги
Оскільки область
–переходу має найбільший опір, прикладена зовнішня напруга падає переважно на ньому, і саме його властивості визначають умови протікання струму через кристал.
Прямий струм. Прикладемо до
–переходу, який знаходиться у стані рівноваги (рис.4а), зовнішню різницю потенціалів
у прямому напрямку, тобто підключивши до
– області позитивний полюс джерела живлення, а до
– області – негативний (рис.4б). Ця різниця потенціалів викличе зниження висоти потенціального бар’єра до
. Внаслідок цього потоки
та
збільшаться у
разів, що приведе до збільшення у
разів густин струмів основних носіїв заряду
(11)
Натомість густини струмів неосновних носіїв заряду
та
, величина яких не залежить від висоти потенціального бар’єру
–переходу, залишаться без змін і будуть виражатися формулами (10).
Таким чином, повний струм
, що протікає у
– переході в прямому напрямку буде відмінний від нуля і становитиме
. (12)
Рис.4. Енергетична схема
– переходу у стані рівноваги (а), при прямому (б) та зворотному (в) включенні.
Зворотний струм. Тепер прикладемо до
–переходу, зовнішню різницю потенціалів
у зворотному напрямку, тобто підключивши до
– області негативний полюс джерела живлення, а до
– області – позитивний (рис.4в). Ця різниця потенціалів викличе підвищення висоти потенціального бар’єра до
, що приведе до зменшення у
разів густин струмів основних носіїв заряду
(13)
Тоді густина повного зворотного струму
через
– перехід
. (14)
Вольт-амперна характеристика
переходу
Об’єднавши вирази (12) і (14), отримаємо
, (15)
де
, знак “+” відноситься до прямого напрямку включення
– переходу, а знак “-“ – до зворотного. Співвідношення (15) являє собою рівняння вольт-амперної характеристики (ВАХ)
– переходу, яке виражає кількісний зв’язок між густиною струму, що протікає через перехід, і різницею потенціалів, прикладеною до нього.
Проаналізуємо отриманий вираз. При прикладанні зовнішньої напруги
у зворотньому напрямку із її збільшенням експонента у формулі (15) прямує до нуля, а
. Абсолютну величину
(16)
називають густиною струму насичення. Практично це досягається при
, тобто при напругах
0,1 В, оскільки при кімнатних температурах
0,025 еВ. Із (16) видно, що струм насичення визначається потоком через
– перехід неосновних носіїв заряду
та
. Оскільки їх концентація невисока, то
є невеликою величиною. Для германієвих
– переходів
~10-2 А/м2, для кремнієвих це значення ще менше.
Згідно (15), при прикладанні зовнішньої напруги
в прямому напрямку струм через
– перехід зростає експоненціально, набагато перевищуючи зворотній струм. Наприклад, для
0,5 В
.
Таким чином,
– перехід має яскраво виражену однобічну (уніполярну) провідність, демонструючи високі випрямлюючі властивості, що використовується у діодах (рис.5).
Рис.5. ВАХ діода






