Межплоскостные расстояния поликристаллической меди

d, А	HKL
2.08	111
1.80	200
1.27	220

 

Альфа и бета компоненты можно отличить по следующим признакам:

1.Высота пика от альфа компоненты примерно в 4-5 раз выше пика от бета компоненты.

2.Длины волн λ_α и λ_β относятся примерно как 1.1/1.

Студентам в рамках выполнения данной работы необходимо проанализировать дифрактограмму образца неизвестного фазового состава и определить компоненты образца, дающие пики на дифрактограмме.

 

Расчетная часть

1.Получить у преподавателя дифрактограмму образца и длины волн рентгеновского излучения λ_α и λ_β.

2.По модели Вульфа-Брэгга рассчитать межплоскостные расстояния.

3.Отделить альфа и бета компоненты на дифрактограмме.

4.Пользуясь справочником, определить фазовый состав образца.

5.Оценить точность определения межплоскостного расстояния по формуле

                                         Δ d = d ctg θ ۰Δθ,                                    (6)

где  Δθ – неточность определения угла отражения (определяется по дифрактограмме, в радианах, 1⁰ = 0.017 рад).

6.Сделать вывод о составе образца и точности его определения.

 

Контрольные вопросы

1.Как происходит взаимодействие рентгеновских лучей с кристаллом?

2. Откуда можно узнать величины d?

3. Зачем отделять альфа от бета компоненты?

4.Что показывает дифрактограмма?

5. Как рассчитать d?

6. Какая модель применяется в структурном анализе?

7.Чему равна точность определения d?

8. Какие волны применяются в данной работе?

9. Как можно отличить альфа от бета компоненты?

10. Какие углы измеряют по дифрактограмме?

 

Библиографический список

Основная литература

1.Громилов, С.А. Введение в рентгенографию поликристаллов / С.А. Громилов. – Новосибирск: НГУ, 2008. – 50 с.

2.Гуляев, А.П. Металловедение / А.П. Гуляев, А.А. Гуляев. – М.: Альянс, 2011. – 650 с.

3.Миронов, В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии / В.Л. Миронов. – Н.Новгород, 2004.- 120 с.

 

Дополнительная литература

4.Горелик, С.С. Рентгенографический и электронно-оптический анализ / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н.Расторгуев. – М.: МИСИС, 2002. –  328 с.

5.Салтыков, С.А. Стереометрическая металлография (Стереология металлических материалов) / С. А. Салтыков. - М.: Металлургия, 1976. – 270 с.

.

.