Таблиця 7.2 - Характеристики напівпровідникових діодів

 

 

Тип

діода

 

 

 

Uпр, В

 

Iпр, mА

 

 

Uобр, В

 

Iобр, mА

  t0= 20-250С   tн=80 0С   t0= 20-250С   tн=80 0С  
Д7В 5-25     5-25    
Д226 5-25     5-25    

 

Примітка. Після виконання п. 7.3.2 схема залишається у зібраному виді.

 

 

23

Таблиця 2.2 - Характеристики зразків при вимірюванні методом заряду конденсатору

 

U, В

Вимірюються

Обчислюються

av as Iv, A Rv, Oм rv, Ом*м gv, См/м Is, А Rs, Ом rs, Ом gs, См
                     

 

2.3.2.15 Для визначення величини поверхневого опору необхідно на схемі (рис. 2.3) змінити місцем затискувачи «В» та «С» і виконати для неї вимірювання по пп. 2.3.2.9-2.3.2.13.

 

Поверхневий опір зразка визначається згідно з формулою, Ом

 

                                                                       .                                                          (2.8)

 

Величини rv та rs обчислюються, відповідно, за формулами (2.1) та (2.2) з використанням формули (2.3), а величини gv та gs за формулами (2.4) та (2.5).

 

2.4 Зміст звіту

 

Звіт повинен додатково містити:

- графіки залежності rv=f(t), rs=f(t), rv=f(U), rs=f(U);

- значення коефіцієнта ar для однієї з точок дослідної кривої;

- теоретичну криву rv=f(t), отриману згідно з формулою:

 

                                                                       ,                                                        (2.9)

 

де  - питомий об'ємний опір при температурі довкілля t0=20°С;

ar або TKr - температурний коефіцієнт, К-1;

  t - температура, °С.

 

Числове значення ar при лінійному зміненні питомого опору (у вузькому інтервалі температур) знаходиться з експериментально отриманої залежності rv=f(t) за формулою:

 

,                               (2.10)

 

 де r1 - питомий опір діелектрика при початковій температурі t1;

r2 - питомий опір при температурі t2, що змінюється.

 

Теоретична крива rv=f(t) має бути побудована на одному графіку із експериментальною кривою.

 

Контрольні питання

 

1. Які фактори впливають на величину об'ємного струму Iv і поверхневого струму Is?

2. За якими формулами обчислюються величини rv і rs?

3. На якому струмі виробляється вимірювання опорів діелектриків і чому?

4. Що характеризує собою температурний коефіцієнт ar?

5. Що подає собою установка для вимірювання опорів?

 

12

           6. Які зміни слід зробити у схемі при вимірюванні Rv і Rs?

           7. Пояснити призначення ключа К1 і ємності С на рис. 2.3.

           8. Яким чином змінеться робота схеми, наведеної на рис. 2.3, якщо буде закорочено ключ К2?

           9. Пояснити призначення ключа К3 на рис. 2.3.                                                                                                                   

         10. Пояснити характер змінення кривих r=f(t).

 

          Література: [2], с. 39-54; [3], с. 121-167; [4], с. 17-47; додатково –[5], с. 59-84

 

Лабораторна робота 3

 


Понравилась статья? Добавь ее в закладку (CTRL+D) и не забудь поделиться с друзьями:  



double arrow
Сейчас читают про: