Зависимость тока стока от температуры при заданных напряжениях
и
обусловлена в основном двумя причинами. Во-первых, с ростом температуры (в рабочем диапазоне температур) уменьшается подлинность носителей заряда, что приводит к увеличению сопротивления канала и, следовательно, к уменьшении тока стока. Во-вторых, увеличение температуры вызывает смещение уровня Ферми к средине: запрещенной зоны. В связи с этим инверсный слой на поверхности полупроводника образуется при меньших напряжениях на затворе, т.н. пороговое напряжение
уменьшается. В результате этого стоко-затворные характеристики МДП-транзистора, снятые для неизменного напряжения
, но при разных температурах, будут пересекаться. Из этого следует, что температурные изменения тока стока могут быть как положительными, так и отрицательными. Принято для МДП-транзисторов температурную нестабильность тока стока характеризовать не приращением тока
, а эквивалентным приращением напряжения
, которое определяется из соотношения
. В режиме, близком к номинальному току стока, характерна температурная нестабильность +(8-10) мВ/°С.
Крутизна МДП-транзистора зависит от температуры вследствие тех же причин, что и ток стока.






