Для собственного полупроводника концентрация свободных носителей заряда в зависимости от температуры определяется выражением
n=A. EXP(-
Wo/2kT),
где
· n - концентрация носителей заряда;
·
Wo - ширина запрещенной зоны;
· k постоянная Больцмана;
· A константа, зависящая от температуры;
Для примесных полупроводников
n1=B. EXP(
Wп/2kT),
где
·
Wп - энергия ионизации примеси;
· В - константа, не зависящая от температуры.






