Экспериментальная часть. Для определения количественного содержания элементов в сплаве или сыпучем образце необходимо иметь градуировочные графики для этих элементов

Для определения количественного содержания элементов в сплаве или сыпучем образце необходимо иметь градуировочные графики для этих элементов. Построение градуировочных графиков производится по значениям интенсивности аналитических линий, зафиксированных МАЭС. В программе «Атом» имеется возможность для измерения интенсивности спектральных линии, построения градуировочных графиков, расчета концентрации элементов в пробах, статистической обработки результатов измерений.

Для проведения количественного анализа необходимо:

1) ознакомиться с методикой проведения анализа, описанной в теории и в свидетельстве, прилагающемся к комплекту стандартных образцов;

2) приготовить анализируемые пробы и образцы сравнения;

3) в программе «Атом» задать аналитические спектральные лини согласно методике анализа;

4) установив параметры экспонирования, предложенные в свидетельстве (ширина щели, время предварительного обыскривания, аналитический промежуток, время экспозиции и т.д.), провести 2–3 прожига каждого из СО. Неоднократная регистрация спектров одних и тех же СО производится с целью уменьшения вероятности грубых ошибок при построении градуировочного графика. Проводить прожиг СО следует поочередно в соответствии с номерами, нанесенными на них. Если в качестве противоэлектрода используются угольные стержни, то перед каждым новым прожигом необходимо устанавливать новый противоэлектрод;

5) используя те же параметры экспонирования, что и при регистрации спектров СО, произвести прожиг анализируемых образцов (не менее 3-х параллельных); во время регистрации спектров следует следить за тем, чтобы данные в параллельных определениях не отличались более чем на 15–20%.

6) построить градуировочные графики для элементов, указанных преподавателем. Для этого в «Таблицу Данных» внести линии этих элементов, рекомендованные в свидетельстве, и ввести известные концентрации для каждого из СО. По мере введения значений в окне «Градуировочный график» будет строиться градуировочная зависимость в заданных координатах (например, lg I – lg c);

7) при наличии градуировочных графиков в «Таблице Данных» в графе С (концентрации) автоматически появятся вычисленные значения концентраций определяемых элементов в анализируемом образце;

8) составить отчет о проделанной работе, который должен содержать: краткий обзор теоретических основ количественного спектрального анализа, градуировочные графики определяемых элементов, концентрации определяемых элементов, выводы о результатах проведенной работы.

Литература

1. Дробышев А. Н. Основы атомного спектрального анализа. – СПб.: Изд-во СПб. ун-та, 2000.

2. Зильберштейн Х. И. Спектральный анализ чистых материалов. – М.: Наука, 1996.

3. Терек Т., Мика Й., Гегуш Э. Эмиссионный спектральный анализ. – М.: Мир, 1982.

4. Тарасов К. И. Спектральные приборы. – Ленинград: Машиностроение, 1968.

5. Зайдель А. Н. Основы спектрального анализа. – М.: Наука, 1965.

6. Шелпакова И. Р., Гаранин В. Г., Лабусов В. А. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 1999. Т. 65. № 10. С. 3.

7. Гаранин В. Г., Шелпакова И. Р., Чанышева Т. А., Комиссарова Л. Н. // Аналитика и контроль. 2004. Т. 8. № 2. С. 184.

8. Заякина С. Б., Путьмаков А. Н., Аношин Г. Н. // Аналитика и контроль. 2005. Т. 9. № 2. С. 212.

9. Лабусов В. А., Попов В. И., Путьмаков А.Н., Бехтерев А. В., Селюнин Д. О. // Аналитика и контроль. 2005. Т. 9. № 2. С. 110.

10. Лабусов В. А., Кайдалов С. А., Щербакова О. И., Кошеров В. В. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2007. Т. 73. С. 40.

11. Лабусов В. А., Бехтерев А. В. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2007. Т. 73. С. 7.

12. Лабусов В. А. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2007. Т. 73. С. 13.

13. Гаранин В. Г., Неклюдов О. А., Петроченко Д. В. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2007. Т. 73. С. 18.

14. Путьмаков А. Н., Попов В. И., Лабусов В. А., Борисов А. В. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2007. Т. 73. С. 26.

15. Лабусов В. А. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2008. Т. 74. № 4. С.

16. Лабусов В. А., Селюнин Д. О., Зарубин И. А., Галлямов Р. Г. // Автометрия. 2008. Т. 44. № 1. С. 27.

17. Лабусов В. А. Многоканальные оптические спектрометры для атомно-эмиссионного анализа. Дис. докт. техн. наук. Новосибирск: Институт автоматики и электрометрии СО РАН, 2009. 291с.

18. Селюнин Д. О., Лабусов В. А., Петроченко Д. В., Мирошниченко В. Л., Неклюдов О. А., Речкин Г. В. // Автометрия. 2010. Т. 46. № 5. C. 67.

19. Васильева И. Е., Шабанова Е. В., Бусько А. Е., Кунаев А. Б. // Аналитика и контроль. 2010. Т. 14. № 4. С. 201.

20. Селюнин Д. О., Лабусов В. А., Гаранин В. Г., Неклюдов О. А., Бабин С. А. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2011. Т. 77. № 6. С. 21-25.

Приложение