Технология заточки вольфрамовых зондов для СЗМ NanoEducator, работающего в режиме сканирующей силовой микроскопии и динамической силовой литографии.
При работе СЗМ в режимах ССМ и ДСЛ зонд приводится в контакт с поверхностью образца и поэтому должен обладать более высокой механической жесткостью, чем зонды для СТМ режима. В соответствии с этим была разработана модель трехступенчатой заточки силовых вольфрамовых зондов для ССМ и ДСЛ режимов работы СЗМ NanoEducator.