Дифракционная решётка

Рассмотрим экран в котором проделано N отверстий (щелей) ширина каждого из которого D

Пусть источник излучения S находиться на большом расстояние от решётки. Определим волновую функцию в точке p лежащей в волновой зоне с другой стороны решётки.

Волновая функция в точке p будет равно сумме волновых функций от каждого отверстия решётки. То есть каждая отверстие решётки мы рассмотрим как источник излучения.

Повторяем выводы §2.5 находим

При определение амплитуды волновой функции в точке p

Необходимо учесть что каждый источник имеет конечный размер D и не является точечным, как в §2.5. Для определения амплитуды излученя такого источника надо воспользоваться результатами §2.6, где была получена амплитуда

Положение главных максимумов определяет исследованиеи зависит от длины волны излучения за исключением центрального.

Это свойство дифракционной решётки позволяет определить спектральный состав излучения. Если источник испускает волны с различной длиной то с помощью дифракционной решётки можно найти длины этих волн, так как условие главного максимума:и волны различной длины будут наблюдаться под разными углами

Максимумы первого порядка будут определять спектр первого порядка излучения.

n=2 – второй порядок спектра

Релей предложил критерий различимости двух линий в спектре излучения линии излучения будем считать различными если главный максимум совпадает с ближайшим минимумом другой

- минимальный интервал длин волн, который можно различить с помощью дифракционной решётки.

-разрешительная способность.

§ 2.8 Принцип Гюйгенса – Фринеля.